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    顯微光致發(fā)光光譜儀

    • 產(chǎn)品型號:OmniPL-MicroS
    • 產(chǎn)品時間:2024-05-20
    • 簡要描述:光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測量應(yīng)用中通常是用激光(波長如325nm、532nm、785nm 等)激發(fā)材料(如GaN、ZnO、GaAs 等)產(chǎn)生熒光,通過對其熒光光譜(即PL 譜)的測量,分析該材料的光學(xué)特性,如禁帶寬度等。
    • 產(chǎn)品介紹

        光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL,是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測量應(yīng)用中通常是用激光(波長如325nm532nm、785nm 等)激發(fā)材料(如GaN、ZnO、GaAs 等)產(chǎn)生熒光,通過對其熒光光譜(即PL 譜)的測量,分析該材料的光學(xué)特性,如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息,是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法,因而在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。
     

        傳統(tǒng)的顯微光致發(fā)光光譜儀都是采用標(biāo)準(zhǔn)的顯微鏡與熒光光譜儀的結(jié)合,但是傳統(tǒng)的顯微鏡在材料的PL 譜測量中,存在很大的局限性,比如無法靈活的選擇實(shí)驗所需的激光器(特別對于UV 波段的激光器,沒有足夠適用的配件),無法方便的與超低溫制冷機(jī)配合使用,采用光纖作為光收集裝置時耦合效率太低等等問題,都是采用標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡難以回避的問題。

        北京卓立漢光儀器有限公司結(jié)合了公司十余年熒光光譜儀和光譜系統(tǒng)的設(shè)計經(jīng)驗和普遍用戶的實(shí)際需求,推出了“OmniPLMicroS”系列顯微光致發(fā)光光譜儀,有效的解決了上述問題,是目前市場上 具性價比的的顯微PL 光譜測量的解決方案。

     性能特點(diǎn):

    ●一體化的光學(xué)調(diào)校——所有光學(xué)元件只需要在初次安裝時進(jìn)行調(diào)校,確保高效性和易用性

    ● 簡單易用的雙光路設(shè)計——可隨意在水平和垂直光路上進(jìn)行切換,適用于各種常見的樣品形態(tài)

    ● 超寬光譜范圍**——200nm-1600nm

    ● 視頻監(jiān)視光路——可供調(diào)整測試點(diǎn)

    ● *的發(fā)射光譜校正功能*——讓光譜測量更精準(zhǔn)且具有可比性

    ● 多種激發(fā)波長可選**——325nm,405nm,442nm,473nm,532nm,633nm,785nm等

    ● 自動mapping功能可選*——50mm×50mm測量區(qū)間,可定制特殊規(guī)格

    ● 電致發(fā)光(EL)功能可選*——擴(kuò)展選項

    ● 顯微拉曼光譜測量功能可選*——擴(kuò)展選項

    ● 超低溫測量附件可選*——提供10K以下的超低溫測量

    *選配項,請詳細(xì)咨詢;

    **需根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行配置確定。

    參數(shù)規(guī)格表*

     應(yīng)用
    不同制冷溫度下GaN材料的PL譜
    激發(fā)波長:325nm,功率:20mW,制冷機(jī) 低制冷溫度:10K


    ZnO材料的PL譜

    激發(fā)波長:325nm; ZnO 薄膜樣品在382nm 處有一個特別強(qiáng)的熒光譜帶,而在500 ~ 600nm 波段,有個弱的可見光熒光譜帶。

    通過研究這些譜帶,可以反映ZnO 表面態(tài)對熒光的影響以及晶型和缺陷信息。
     

     

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