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    等離子體發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

    • 產(chǎn)品型號:OmniES-Plasma
    • 產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-20
    • 簡要描述:該系統(tǒng)用于測量等離子體發(fā)射光譜測量,采用模塊化設(shè)計(jì) 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合
    • 產(chǎn)品介紹
     ● 該系統(tǒng)用于測量等離子體發(fā)射光譜測量,采用模塊化設(shè)計(jì)
    ● 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合
    ● 可定位測量空間位置(選配功能)
    ● 測量光譜范圍:200-2500nm或1μm-14μm
    ● 光譜分辨率:優(yōu)于0.05nm(@1200g/mm光柵)
    ● 波長準(zhǔn)確度:優(yōu)于±0.2nm
    ● 波長重復(fù)性:優(yōu)于±0.1nm
    ● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動測量、數(shù)據(jù)運(yùn)算、保存及打印等功能
     

     

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